У підсумку вивчення дисципліни студент отримує знання про те, як визначати атомну структуру кристалів (особливо, нанорозмірів) як неорганічних, так і органічних матеріалів за допомогою електронів, особлива увага в курсі приділяється рішенню проблеми визначення фаз структурного фактору, методам розрахунку структури (прямим методам, побудові карт Паттерсона, кристалографічній обробці високо-роздільних електронно-мікроскопічних (ВРЕМ) зображень та інші) та методам її уточнення, а також перевагам та недолікам електронної кристалографії як методу вивчення структури кристалів у порівнянні з рентгенівською кристалографією.

Вивчення дисципліни включає виконання 8 комп’ютерних лабораторних робіт, в яких розглянуто функції програм CRISP, ELD, Trice, PhIDO: індиціювання картин електронної дифракції, наведено методики і процедури визначення параметрів елементарної комірки прямої і оберненої ґратки, осі зони, зони Лауе, побудови тримірної оберненої гратки для моно- і полікристалів, тривимірного індиціювання картин електронної дифракції; визначення кристалічної системи, кристалічного класу та просторової групи, визначення структури за даними електронно-мікроскопічних зображень високої роздільності з допомогою кристалографічної обробки зображення з корекцією ефектів ФПК, визначення фаз структурного фактору і структури кристалів прямими методами, її уточнення та візуалізації результатів за допомогою програм SIR2000, jana2000, SHELXL, Emap, diamond 2.1, atom 5.1.